Savaitgalio pasiūlymas! Papildoma -5% nuolaida su kodu: EXTRA5 (nuolaidos sumuojamos)
Įrašykite savo el. paštą ir informuosime, kai prekę turėsime
Knygoje pateikiama medžiaga aprėpia sparčiųjų integrinių grandynų (IG), skaitmeninių-analoginių keitiklių (SAK) ir analoginių skaitmeninių keitiklių (ASK) vertinamojo bandymo ir parametrų nustatymo problemas.
Elektroninių sistemų testavimas padeda užtikrinti gaminamų sistemų kokybę ir naudojimo patikimumą. Tai svarbus uždavinys šių sistemų gamybos procese. Dabar praktikoje labai plačiai naudojami skaitmeniniai integriniai grandynai (SIG) ir integriniai informacijos keitikliai – skaitmeniniai-analoginiai (SAK) bei analoginiai-skaitmeniniai (ASK). Šių įrenginių vertinamojo bandymo problemos sudėtingos, būtini specialūs metodai bei įranga.
Leidinys skirtas Vilniaus Gedimino technikos universiteto elektronikos specialybių magistrantūros studentams, studijuojantiems elektroninių sistemų testavimo (ELESM03701) modulį. Žinios gali būti reikalingos elektronikos inžinieriams praktikams.
Autorius: | R. Kvedaras, V. Kvedaras |
Leidėjas: | VGTU leidykla Technika |
Išleidimo metai: | 2011 |
Knygos puslapių skaičius: | 116 |
Formatas: | 14×20, minkšti viršeliai |
ISBN ar kodas: | 9789955289210 |
Žanras: | Lietuvių literatūra |
Parašykite atsiliepimą apie „Sparčiųjų skaitmeninių integrinių grandynų ir informacijos keitiklių dinaminių parametrų testavimas“