Savaitgalio pasiūlymas! Papildoma -5% nuolaida su kodu: EXTRA5 (nuolaidos sumuojamos)

0 Mėgstami
0Krepšelis
Nemokamas pristatymas nuo 20€ į paštomatus Lietuvoje * 🔥  NAUJIENA! 📚 Knygos ANGLŲ kalba su kodu BOOKS -20% pigiau! Naršykite čia >> 👉 ⚡

Sparčiųjų skaitmeninių integrinių grandynų ir informacijos keitiklių dinaminių parametrų testavimas

Šiuo metu neparduodama

Įrašykite savo el. paštą ir informuosime, kai prekę turėsime

Knygos aprašymas

Knygoje pateikiama medžiaga aprėpia sparčiųjų integrinių grandynų (IG), skaitmeninių-analoginių keitiklių (SAK) ir analoginių skaitmeninių keitiklių (ASK) vertinamojo bandymo ir parametrų nustatymo problemas.
Elektroninių sistemų testavimas padeda užtikrinti gaminamų sistemų kokybę ir naudojimo patikimumą. Tai svarbus uždavinys šių sistemų gamybos procese. Dabar praktikoje labai plačiai naudojami skaitmeniniai integriniai grandynai (SIG) ir integriniai informacijos keitikliai – skaitmeniniai-analoginiai (SAK) bei analoginiai-skaitmeniniai (ASK). Šių įrenginių vertinamojo bandymo problemos sudėtingos, būtini specialūs metodai bei įranga.
Leidinys skirtas Vilniaus Gedimino technikos universiteto elektronikos specialybių magistrantūros studentams, studijuojantiems elektroninių sistemų testavimo (ELESM03701) modulį. Žinios gali būti reikalingos elektronikos inžinieriams praktikams.

Informacija

Autorius: R. Kvedaras, V. Kvedaras
Leidėjas: VGTU leidykla Technika
Išleidimo metai: 2011
Knygos puslapių skaičius: 116
Formatas: 14×20, minkšti viršeliai
ISBN ar kodas: 9789955289210
Žanras: Lietuvių literatūra

Pirkėjų atsiliepimai

Parašykite atsiliepimą apie „Sparčiųjų skaitmeninių integrinių grandynų ir informacijos keitiklių dinaminių parametrų testavimas“

Būtina įvertinti prekę